ઘનતા માપન અને સ્કેનિંગ ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપી

ઘનતા માપન

પ્રાચીન નમૂના (બ્રાસ અને ઝિર્કોનિયા) અને 300 °C અને 600 °C પર રાખવામાં આવેલા ડિગ્રેડેડ નમૂનાઓ પર ઘનતા માપન માટે પાઇકનોમીટરમાંથી ડેટા.

સિરામિક નમૂનાઓએ નૈસર્ગિક અને ડિગ્રેડેડ (300 °C અને 600 °C) નમૂનાઓ માટે સતત ઘનતા માપન જાળવી રાખ્યું હતું.તેની રાસાયણિક અને માળખાકીય સ્થિરતાને ધિરાણ આપતી સામગ્રીના ઇલેક્ટ્રોવેલેન્ટ બંધનને કારણે ઝિર્કોનિયા દ્વારા આ વર્તનની અપેક્ષા રાખવામાં આવે છે.

ઝિર્કોનિયા આધારિત સામગ્રીને કેટલાક સૌથી સ્થિર ઓક્સાઇડ તરીકે ગણવામાં આવે છે અને તે 1700 °C ની નજીકના એલિવેટેડ તાપમાને ધીમે ધીમે વિઘટિત થતું હોવાનું પણ દર્શાવવામાં આવ્યું છે.તેથી, ઉચ્ચ તાપમાનના કાર્યક્રમો માટે સિરામિક સેન્ટરપોસ્ટનો ઉપયોગ કરવો એ એક સમજદાર પસંદગી હોઈ શકે છે, જો કે સિન્ટર્ડની રચના

સ્કેનિંગ ઇલેક્ટ્રોન માઇક્રોસ્કોપી

■ આકૃતિ 3

ડાબી બાજુ નૈસર્ગિક અને 600 °C ના ધાતુના નમૂનાઓ બતાવે છે અને જમણી બાજુ સિરામિક પ્રિસ્ટીન અને 600 °C દર્શાવે છે

આકૃતિ ત્રણ પોલિશ્ડ અને કોતરણીવાળા નૈસર્ગિક અને ડિગ્રેડેડ નમૂનાઓની ઉચ્ચ-રિઝોલ્યુશન ઇમેજિંગ બતાવે છે.જોઈ શકાય છે તેમ, સિરામિક નમૂનાઓ (જમણી બાજુની છબીઓ) માં અધોગતિના કોઈ પુરાવા નથી.નમૂનાઓમાં સમાન ભૌતિક માળખું હોય છે જે ઉચ્ચ તાપમાને સિરામિક નમૂનાની સ્થિરતા આપે છે.બીજી તરફ આપણે ડિગ્રેડેડ બ્રાસ સેમ્પલ પર સપાટીના મોર્ફોલોજીમાં ભારે ફેરફાર જોઈએ છીએ.પિત્તળના નમૂનાની સપાટી ભારે ઓક્સિડેશન દર્શાવે છે.ઓક્સાઇડ સ્તરની ભૌતિક રચના પણ પિત્તળના નમૂનાની ઘનતામાં ફેરફારમાં ફાળો આપે છે.